Les 15èmes Rencontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS auront lieu les 28 et 29 novembre 2012 au Centre Microélectronique de Provence Georges Charpak à Gardanne. Le thème sera « Méthodes de Caractérisation pour la microélectronique et le photovoltaïque ». Une vingtaine de conférenciers issus de laboratoires et de sociétés interviendront : Cameca, CEA, Horiba, IMEC, IM2NP, ION-TOF, Laboratoire National de Métrologie et d’Essais, Orsay Physics, Photon Science Institute, Probion, SOITEC, STMicroelectronics, Tera Environnement, TU Dresden... Programme et inscriptions sur : www.technical-and-scientific-meeting.com
Si vous souhaitez présenter un poster ou exposer, nous vous invitons à nous contacter à: contact(at)technical-and-scientific-meeting.com
Pour bénéficier du tarif préférentiel, la date limite d’inscription est le lundi 29 octobre 2012. |