Les 15èmes Rencontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS auront lieu les 28 et 29 novembre 2012 au Centre Microélectronique de Provence Georges Charpak à Gardanne. Le thème sera « Méthodes de Caractérisation pour la microélectronique et le photovoltaïque ». Une vingtaine de conférenciers issus de laboratoires et de sociétés interviendront : Cameca, CEA, Horiba, IMEC, IM2NP, ION-TOF, Laboratoire National de Métrologie et d’Essais, Orsay Physics, Photon Science Institute, Probion, SOITEC, STMicroelectronics, Tera Environnement, TU Dresden...
Cette conférence est organisée en partenariat avec la plate-forme Caractérisation et est soutenue par l’Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne et le SITELESC. Programme et inscriptions sur : www.technical-and-scientific-meeting.com
Pour bénéficier du tarif préférentiel, la date d’inscription est le jeudi 15 novembre.
Possibilité de soumettre un abstract pour la poster session jusqu’au 16 novembre 2012.
Vous souhaitez être exposant : téléchargez le formulaire « Exhibitor » et renvoyez le au plus tard le 16 novembre.
CONTACTS :
Luc JEANNEROT - Corinne JOACHIM - Cindy PONS
contact(@)technical-and-scientific-meeting.com
Tél.: 04 42 53 81 50
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