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 Les 15èmes Recontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS - "Méthodes de Caractérisation pour la microélectronique et le photovoltaïque" |
28-11-12 15:04
Categorie: Evenements
Les 15èmes Rencontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS, ont eu lieu les 28 et 29 novembre 2012 au Centre Microélectronique de Provence Georges Charpak à Gardanne. Ces 15èmes Rencontres avaient pour thème : "Méthodes de Caractérisation pour la microélectronique et le photovoltaïque"
Avec plus de 100 participants, ces 15èmes Rencontres Scientifiques et Techniques ont été une succès.
21 présentations orales et 12 posters ont été réalisés.
4 pays étaient représentés : la France, l'Allemagne, les Pays-Bas et le Royaume-Uni
6 exposants : la plate-forme Caractérisation, ION-TOF, INSIDIX, IMINA Technologies, HORIBA Scientific, SEMILAB.
Cette conférence était organisée en partenariat avec la plate-forme Caractérisation et également soutenue par l'Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne et le SITELESC.
CONTACTS :
Luc JEANNEROT, Directeur des Evénements, ARCSIS
Corinne JOACHIM, Chargée de Communication , ARCSIS
Cindy PONS, Assistante de Communication, ARCSIS
contact(@)technical-and-scientific-meeting.com
www.technical-and-scientific-meeting.com
Tél.: 04 42 53 81 50
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