Banc de mesure champ proche - RF Consulting
Banc de mesure champ proche de circuit hyperfréquences et dispositifs rayonnants 0,7 Ghz - 8 Ghz (avec PSG Generator Agilent E8257D 250 kHz - 20 Ghz). Système permettant la cartographie du champ électromagnétique (E ou H) et des courants surfaciques avec table de déplacement XY ayant une précision de déplacement de l'ordre du mm.
Mesureur de bruit de phase - AGILENT
Mesureur de bruit de phase fonctionnant jusqu'à 20 Ghz (PSG Signal Generator Agilent E8257D 250 kHz - 20 GHz, Spectrum Analyzer Agilent E4411B 9 kHz - 1,5 GHz) Possibilité d'adapter la mesure au cas par cas avec VCO interne ou externne.
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Banc de test sous pointes
Banc de test sous pointes de composants, puces et circuits microélectroniques de 50 MHz à 60 GHz : Vector Analyzer HP 8722D (50 MHz- 40GHz, testeur sous pointes Cascade Microtech Alessi REL - 4800 avec calibration automatique. Mesure de wafers jusqu'à 8 pouces.
Banc de mesure fréquentiel - AGILENT
Analyseur vectoriel PNAX 5242A 10MHz-26.5 GHz 4 ports avec extension pour faire des mesures de paramètres S jusqu'à 110 GHz en 2 ports - Connectiques 1mm, 2.4 mm, 3.5 mm, guide WR10, guide WR15.
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Banc de mesure impulsionnel - Tektronix
Oscilloscope temps réel DPO 71604 - bande passante analogique16 GHz - 4 voies - 50 Géch/voie - 2M points de profondeur mémoire - connectiques SMA ou sondes différentielles. Générateur arbitraire de signaux AWG 7102 - bande passante 5 GHz - 2 voies - 10 Géch/voie - possibilité d'avoir 20 Géch sur 1 voie grâce à l'option d'entrelacement des échantillonneurs - amplitude pp max 1 V - Connectique SMA.
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Veloce - Mentor Graphics
Emulateur d'une capacité de 8M gate utilisateur, supportant 15 domaines d'horloge asynchrones et tournant à des fréquences nominales de l'ordre de 1.5MHz. Possibilité de l'utiliser en mode ICE (In Circuit pour connexion externe de ports JTAG/RS232/PCI Express/Vidéo ...), accélération de simulation (HDLLink couplé avec un simulateur logiciel) ou accélération a base de transactions (TBX utilisant des environnements de test décrits en langage haut niveau).
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